Назад Наука и технологии

Исследователи могут определять дефекты чипов на атомном уровне

Физики из Мичиганского университета разработали метод, который использует микроскопию высокого разрешения и сверхбыстрые лазеры для обнаружения атомных дефектов в полупроводниках.

Благодаря этому прорыву команда полагает, что нашла решение одной из ключевых проблем, возникающих при миниатюризации электроники вплоть до атомного уровня: разработка инструментов, которые могут анализировать материалы с наномасштабной точностью. Этот новый метод, описанный в журнале Nature Photonics, может обнаруживать несоответствующие атомы в полупроводниках с непревзойденной точностью, используя лазеры для наблюдения за движением электронов.


Другие новости

Отраслевые новости: Мир

Бигтех присягнул Трампу

Руководители крупнейших технологических компаний США поспешили поздравить 47 Президента, рассчитывая на скорые перемены к лучшему...

Отраслевые новости: Мир

В Intel веры нет

Никогда лидер рынка микропроцессоров не был так близок к провалу.

Есть вопросы?

Мы готовы ответить. С удовольствием расскажем Вам все о портале ЭЦТ, услугах, тарифах, преимуществах для пользователей и процедуре подключения.

Нужна помощь

Вы уже пользуетесь порталом и у вас возникли технические проблемы или нужен совет по работе с меню и сервисами? Профессиональная техническая поддержка к Вашим услугам.